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晶体结构与缺陷的电子显微分析实验案例
作者:马秀良|责编:任辛欣
出版社:高等教育
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出版社:高等教育
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ISBN:9787040610963
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作者:马秀良|责编:任辛欣
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页数:588
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出版日期:2024-01-01
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印刷日期:2024-01-01
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包装:平装
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开本:16开
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版次:1
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印次:1
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字数:720千字